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머신비전솔루션
룰-기반 비전의 성능을 극대화하여 제품의 계측, 외관, Alignment를 검사하는 솔루션
룰-기반 비전의 성능을 극대화한 (주)트윔의 머신비전솔루션은 제품의 계측 검사, 외관 검사, Alignment에 최적화를 보장합니다.
더 나아가 공정의 환경에 따른 광학 설계로 귀사에 맞는 시스템 효율성을 제안해드립니다.

이미 수 많은 사업 영역과 프로젝트에서 성능 검증이 완료된, (주)트윔의 머신비전솔루션을 도입하십시오.

CELL소재 및 태양광 모듈 생산라인 전 공정 통합 비전 시스템 태양광 검사시스템

개요
태양광 생산라인의 검사시스템에 대한 중요성이 확대함에 따라 통합 비전 시스템을 구축하여 효율적인 수율 관리 및 안정성 강화가 가능합니다.
특징
  • Rule Base검사와 AI 비전검사를 접목하여 안정적인 검사 솔루션 구축(T-AIS 적용)
    - Rule Base 검사 : 태양광 모듈 조립 공정 후 치수 측정, GAP 검사, 라벨 부착등 공정 검사 적용
    - AI 검사 : 다양한 비정형 불량을(원재료 외관, 조립 외관, 공정 검사, 태양광 패널 EL검사 등) 유형 별 수집된 DATA를 딥러닝 학습을 통해 AI 검사 적용(MOAI 4.0 적용)
  • 원자재 검사부터 완재품 품질, 리페어 검사등 30여가지의 비전 검사를 플랫폼 비전 프로그램으로 구성
  • VISION ALIGN을 통해 공정 효율을 향상
    - Cell Cutting, 조립, 용접 공정에 적용
  • 비전 프로그램을 통해 공정 별 불량 집계, 유형 분석 가능.
  • 고해상도 라인스캔 카메라로 이미지 취득하여 다양한 불량 유형별 미세한 결함을 찾아냄.
검사구성
치수 측정
검사 항목 외곽 SIZE, 치수, 간격
공정 CELL 공급, 조립, 용접, AOI
원자재 검사
검사 항목 방향, CARCK, CHIP, 변색, PRINT
공정 CELL 공급, 조립
공정 검사
검사 항목 WIRE CUTTING, 용접상태, 도포상태, 정렬상태, 공정 상태
공정 간격, Cutting 용접, 조립, 도포
ALIGN
검사 항목 2POINT, 4POINT
공정 Cell 공급, Sheet 조립, 소재 정렬, 리페어, BENDING
외관 검사
검사 항목 CRACK, CHIP, DUST, WIRE, 얼룩, BUBBLE, 박리
공정 Cell 공급, 리페어, AOI
패널 EL 검사
검사 항목 CRACK, DARK CELL, MISS SOLDER
공정 소재, 모듈 EL 검사
도입 효과
  • 불량율 개선
  • 불량 분석 및 공정 개선
  • 검사인원 축소
적용 사례
  • H사 : 국내/외 태양광 모듈 생산라인 비전 시스템 도입
응용 분야
  • 태양광 CELL 라인 공정 검사, AOI, ALIGN
  • 태양광 모듈 조립 라인 공정 검사, AOI, ALIGN
  • 태양광 모듈 EL 검사
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(주)트윔 영업본부